检测样品：砂浆骨料，填筑土体，混凝土，铝合金材料等

检测项目：不均匀性检测

检测周期：7-15个工作日，参考周期

检测标准

BS ISO 10110-4-1997光学及光学仪器.光学元件和系统图形的制备.第4部分:不完备材料的不均匀性和擦痕

CEI EN 61262-3-1998医用电气设备.电光X射线图像增强器的特性.第3部分:亮度分布和亮度不均匀性的测定.第一版

EN PREN 13036-5-2006道路和机场表面试验方法,第5部分：纵向不均匀性指数的测定

DB44/T 1716-2015台山玉

DIN 50443-1-1988半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性

DIN 50443-2-1994半导体工艺材料检验;用X射线粘扑法证明半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性.Ⅲ-V-连接半导体

DIN EN 61262-3-1995医用电气设备.电光学X射线图像增强器的特性.第3部分:亮度分布及不均匀性的测定

DIN ISO 10110-4-2000光学和光学仪器.光学元件和系统的图形制备.第4部分:材料缺陷.不均匀性和划痕

GB/T 6379.2-2004测量方法与结果的准确度(正确度与精密度) 第2部分：确定标准测量方法重复性与再现性的基本方法

GB/T 17455-2008无损检测 表面检测的金相复型技术

GB/T 22588-2008闪光法测量热扩散系数或导热系数

GB/T 23600-2009镁合金铸件X射线实时成像检测方法

GB/T 25944-2010铝土矿 批中不均匀性的实验测定

GB/T 25950-2010铝土矿 成分不均匀性的实验测定

GB/T 26641-2021无损检测 磁记忆检测 总体要求

GB/T 39637-2020金属和合金的腐蚀 土壤环境腐蚀性分类

GOST 11612.3-1975光电倍增管 由光阴极引起的阳极光灵敏度不均匀性的测量方法

GOST 16755-1971电子束接收管 荧光屏辉度不均匀性测量方法

GOST 21059.1-1975黑白电视显象管 荧光屏亮度和辉度不均匀性测量方法

GOST 21059.5-1976黑白电视和彩色电视显象管 荧光屏发光色度及其不均匀性测量方法

我们的检测优势

1、高新技术企业，检测资质齐全，仪器先进，科研团队强大

2、检测周期更短，实验方案更齐全，科研团队更强大

3、初检样品，初检期间不收取任何费用，制定详细的实验方案

4、检测报告认可，支持扫码查询真伪

5、有多家实验室分支，支持客户上门取样/寄样检测服务

6、与客户签订保密协议，严格保护客户隐私

检测流程

1、寄样(与在线工程师沟通确定项目，寄样)

2、初检样品(收到样品之后，初检样品，制定详细的实验方案)

3、报价(根据客户检测需求以及实验复杂程度报价)

4、签订保密协议(严格保护客户隐私)

5、开始实验

6、结束实验，提供后期服务

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